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HPGe輻射探測器類型和如何進行選擇
  • 產品型號:
  • 更新時間:2025-07-29
簡要描述:

高純鍺(HPGe)輻射探測器的分類ORTEC提供各種HPGe輻射探測器解決方案,涵蓋了幾百電子伏特(eV)范圍內的X射線能量以及10MeV及以上范圍內的伽馬射線能量

產品詳情
HPGe Radiation Detector Energy Range
高純鍺(HPGe)輻射探測器的分類

ORTEC提供各種HPGe輻射探測器解決方案,涵蓋了幾百電子伏特(eV)范圍內的X射線能量以及10 MeV及以上范圍內的伽馬射線能量。這些探測器使用P型和N型的高純鍺(HPGe)制造而成。這兩類探測器均使用液氮或機械冷卻器進行低溫冷卻。

如何為您的應用選擇合適的HPGe輻射探測器

為您的特定應用選擇正確的探測器需要考慮許多標準。特定測量所需的探測器不能通過單個表格或圖表確定。上面的能量范圍圖表和下面的關鍵屬性表應在選擇探測器時使用。您可以單擊下表中的探測器類型鏈接,以獲取有關該特定探測器的更多詳細信息。

ORTEC還有幾種應用特定的探測器,并且具備設計和制造專用探測器的能力。選擇以下鏈接了解更多詳情。

  • 特定應用的輻射探測器
  • 特殊探測器

FWHM分辨率(以keV為單位)@ 指定能量

探測器系列

典型計數
幾何位置

相對效率
范圍(%)

5.9 keV

122 keV

1332 keV

GEM
P型同軸

點源
大面積源
Marinelli

10-150

不適用

0.80-1.30

1.75-2.30

Profile C
P
型同軸

點源
大面積源
Marinelli

20-175

0.73-1.23

0.85-1.30

1.80-2.30

Profile M
P
型同軸

點源
大面積源

20-175

不適用

0.88-1.30

1.80-2.20

Profile S
P
型半平面

點源
大面積源

7-65

0.35-0.50

0.65-0.70

1.80-1.90

Profile SP
P
型半平面

點源
大面積源

7-50

0.30-0.43

0.59-0.63

1.80-1.90

Profile F
P型半平面

點源
大面積源

7-60

不適用

0.65-0.85

1.80-2.10

GMX
N
型同軸

點源
大面積源
Marinelli

中子本底

10-100

0.60-1.20

不適用

1.80-2.5

GLP
P
型平面

點源
小面積源
定時測量

不適用

0.17-0.39

0.48-0.60

不適用

GWL
P
型反向
同軸(井)

小體積源
井內測量

90-450毫升
有效體積
15-100%相對效率)

不適用

1.20-1.40

2.10-2.30


應用

最合適的探測器

同步輻射研究;軟X射線研究

GLP

具有復雜譜的大型環(huán)境樣品

GEMGEM-FGEM-MGEM-CGEM-S(推薦低本底)

過濾介質、盤狀或瓶狀的環(huán)境樣品

GEM-FGEM-CGEM-SGEMGMX

小型環(huán)境樣品

GWL(推薦低本底)

高等級裂變材料/安全保障

SGDSGD-GEM

中子活化分析

GMX(推薦附加選件)

事故后監(jiān)測

GEM(推薦附加選件)

康普頓抑制的伽馬能譜測量

GMX

海上或空中巡查

Micro-trans-SPECtrans-SPEC-DX-100TIDM-200-V

肺部監(jiān)測

GEM-S、錒系元素-85

測量射線束或近快速中子場

GMX(推薦使用原位中子損傷退火的專用內部加熱器)

廢物分析

Micro-trans-SPECtrans-SPEC-DX-100TGEMGMXGEM-CGEM-SIDM-200-V

貨運/邊境安全

Micro-DetectiveDetective-EXDetective-DXDetective-200IDM-200-PIDM-200-V

原位環(huán)境譜分析

Micro-trans-SPECtrans-SPEC-DX-100TGEMGMXGEM-CGEM-SIDM-200-V

 

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